光纤耦合对准自动寻优算法原理，提升光耦合对准效率与良率

自动寻优算法是全自动、半自动光耦合系统控制软件的核心核心程序逻辑，直接决定光纤与光芯片波导对位速度与耦合损耗控制效果。早期简易耦合设备仅搭载基础单点扫描程序，寻优耗时久，容易遗漏光功率峰值点位，造成耦合损耗偏高、批量产品良率波动。行业内自研耦合设备搭载的智能分层寻优算法，通过分层扫描、峰值识别逻辑优化对位流程，有效提升耦合对准效率与产品良率。
智能自动寻优算法整体分为粗扫描、精细扫描、峰值锁定三个核心运行阶段，分层完成多维度光路扫描对位。第一阶段粗扫描环节，算法设置较大的扫描步距，驱动六轴运动平台在预设位移区间内快速大范围扫描，快速定位光功率数值较高的区域，缩小后续精细扫描范围。粗扫描阶段无需高精度微调，仅快速锁定最优耦合点位大致区间，大幅缩短整体寻优耗时。
第二阶段精细扫描环节，算法自动缩小扫描步距，在粗扫描锁定的高功率小范围区间内完成细密分层扫描，持续采集每一个坐标点位对应的耦合光功率、插入损耗数据，完整记录区间内全部功率数值变化曲线，精准捕捉功率峰值所在坐标，避免因扫描步距过大跳过最优耦合点位。针对硅光、铌酸锂等高精密芯片耦合场景，算法可自动进一步缩小精细扫描步距，适配纳米级精准对位需求。
第三阶段峰值锁定与坐标稳压环节，算法识别到光功率峰值点位后，驱动运动平台精准移动至对应坐标位置，持续采集数秒光功率数值，确认功率数值稳定无波动后，判定对位完成，自动保存该组最优耦合坐标参数，完成单次器件寻优流程。若中途出现功率数值持续衰减，算法会自动重新启动精细扫描流程，二次查找峰值点位，降低不良品产出概率。
针对不同品类光器件，自研算法支持自定义扫描参数模板。无源分路器、耦合器等结构简单器件，可设置更大粗扫步距，进一步提升寻优速度；硅光芯片、多通道 PIC 光子集成器件、铌酸锂调制器等高精度器件，可调用高精度细分扫描模板，平衡对位速度与耦合精度。
上海勤畅光电自研耦合控制软件内置分层式智能寻优算法，针对各类光器件优化专属扫描模板，可根据客户生产器件类型微调算法参数，提升批量耦合作业效率与产品良率。
光器件生产企业、科研实验室使用自动化耦合系统时，可根据自身器件类型，调试匹配的寻优算法扫描参数，借助分层自动寻优逻辑，缩短光纤耦合对准耗时，稳定器件耦合损耗指标，提升产品良率。