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TEC 温度控制系统在光耦合设备中的应用,芯片恒温耦合方案

各类光芯片、光波导器件的光学传输特性会随环境温度变化产生改变,芯片波导折射率随温度波动发生偏移,光纤与波导对位耦合完成后,温度变化会直接提升器件耦合损耗,批量生产时损耗数据波动较大。TEC 温度控制系统集成于光耦合设备内部,能够精准调控光芯片作业温度,打造稳定恒温耦合环境,是高精度光耦合作业重要配套功能模块。
TEC 温度控制系统核心由半导体制冷制热芯片、温度传感器、温控调节程序组成,具备同步制冷、加热双向调控能力,温度传感器实时采集芯片表面温度数据,传输至温控程序,系统自动调节制冷制热功率,将芯片温度稳定设置在固定数值区间,缩小温度波动范围。整套系统可根据器件工艺需求,设置常温、低温、高温多档恒温区间,适配不同类型光芯片耦合工艺标准。
TEC 温控模块适配硅光芯片、铌酸锂调制器、板载 COB 光芯片等各类对温度敏感的光学器件耦合作业。在研发实验室测试场景,恒温环境能够排除温度变量对实验耦合数据的干扰,保障实验数据可重复、可对比;在批量封装产线场景,稳定恒温环境能够降低同批次器件耦合损耗差值,提升批量产品光学性能一致性。温控模块可集成安装在各类耦合台芯片夹持工装内部,体积小巧,不会占用过多设备操作空间。
上海勤畅光电可为全系耦合设备配套集成式 TEC 温度控制系统,温控调节区间可根据客户工艺需求定制调整,温控程序与耦合控制软件联动运行,同步记录每一次耦合作业芯片温度数据,方便工艺追溯复盘。设备配套完善温控校准流程,定期简单校准即可长期维持控温精准度。
从事高精度光芯片研发、批量封装的企业与科研单位,搭建耦合设备配套方案时,若日常加工测试器件对温度较为敏感,可加装 TEC 温度控制系统,打造恒温耦合作业环境,消除温度波动带来的耦合损耗波动,稳定器件光学性能指标。

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